El arte de los fallos

Gente en la playa: Eso es lo Lim Saw Sing vio en esta imagen de microscopio electrónico de barrido. Lim, que trabaja en las instalaciones de Infineon Technologies ‘en Kulim, Malasia, expone una superficie de poliamida para grabado por iones reactivos. La imagen resultante ganó el primer premio en el “2012 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2012)”. Foto: Lim Saw Sing / Infineon Technologies

Alas: El analista de Advanced Micro Devices, Foo Fang Jie encontrado este conjunto de alas angelicales, mientras que el examen de una fractura en una muestra de silicio. Se ganó el segundo premio. Foto: Foo Colmillo Jie / AMD

Terraza de la Esperanza: El corte en el borde de una oblea de silicio, cuando se examina bajo un microscopio electrónico de barrido, parece un poco inspirador de la geografía, de acuerdo con el tercer ganador del premio Tan Lee Koon. Foto: Tan Lee Koon / Systems de Silicon-on-Manufacturing Co.

Selva Misteriosa: Una estructura de la membrana, arriba, se adhiere a un poco de cinta adhesiva de carbono para formar un bosque extraño en esta imagen de microscopía. Foto: Lim Chan Way / Infineon Technologies

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